Diffraction X

La diffraction X permet l’identification des produits cristallisés par l’étude de la dimension et de la forme de la maille élémentaire :

  • identification d’oxydes formés à hautes températures ou en milieu aqueux (exemple : tuyaux de canalisation),
  • recherche des composants d’une terre ou d’une argile (exemple : caractérisation des bentonites).

Diffractomètre Siemens

Gonoimètre et son porte-échantillon rotatif

L’étude de la forme des raies permet de caractériser l’état des micro-contraintes et la taille des cristallites. La variation de position des raies renseigne sur l’état des contraintes superficielles.
 
Les mesures d’intensité des raies permettent de déterminer les proportions de phases cristallisées en présence, notamment pour le dosage de l'austénite résiduelle.

Dosage de l'austénite




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