Diffraction X

La diffraction X permet l’identification des produits cristallisés par l’étude de la dimension et de la forme de la maille élémentaire :

identification d’oxydes formés à hautes températures ou en milieu aqueux (exemple : tuyaux de canalisation),
recherche des composants d’une terre ou d’une argile (exemple : caractérisation des bentonites).

Diffractomètre Siemens

Gonoimètre et son porte-échantillon rotatif

L’étude de la forme des raies permet de caractériser l’état des micro-contraintes et la taille des cristallites. La variation de position des raies renseigne sur l’état des contraintes superficielles.

Les mesures d’intensité des raies permettent de déterminer les proportions de phases cristallisées en présence.

Deux applications en découlent :

le dosage de l’austénite résiduelle,
la mesure de la silice dans l’atmosphère des lieux de travail.

Dosage de l'austénite

Nous sommes accrédités COFRAC pour ce dosage de la silice et nous participons régulièrement à des comparaisons inter laboratoires pour lesquelles nous sommes toujours bien placés.

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